FT IR에서 발견된 성분을 XRF로 확인 할 수 있을까요? > 질의 & 응답

본문 바로가기
고객센터
최고 수준의 시험&연구 인력과 노하우
최상의 기술력이 겸비된 한국품질시험원 입니다.
질의 & 응답
> 고객센터 > 질의 & 응답

FT IR에서 발견된 성분을 XRF로 확인 할 수 있을까요?

페이지 정보

profile_image
작성자 정종하
댓글 1건 조회 2,851회 작성일 12-11-30 21:42

본문

회사
전화번호
이메일 jhjeong@kr-avanstrate.com
귀사에 종종 GLASS 분석 의뢰를 하고 있는 아반 스트레이트 코리아의 정종하입니다.

합지(종이) 의 소포제(기포) 의 함유량을 잘 모르겠으나(미량 추정) FT IR로
Si -particle이란 것은 확인이 되었습니다.

이에 XRF로 합지 속에 함유된 소포제 성분의 유무를 확인하고 싶습니다만
가능할까요?
일단 XRF는 수 um 정도 함유되어야 분석이 되는 것으로 알고 있습니다만
nm 정도 함유되어 있다면 어떤 분석 장비로 확인하는 것이 좋을런지요?

상담 후 분석 의뢰 하고 싶습니다.

댓글목록

profile_image

KQTI님의 댓글

KQTI 작성일

안녕하세요 한국품질시험원 입니다

소포제 성분이  Si 성분이라면 Si 성분의 유뮤 및 함유량을 파악하면 될 것 같습니

다. 분석방법은  XRF 이외 다른 방법도 있습니다

XRF는 검출감도가 않 좋아 일정량 이상이 있으야 검출이 됩니다

당사로 연락(권진기)  주시면 최적의 방법으로 분석해 드리겠습니다

감사합니다


상호 : 한국품질시험원      우편번호 : 16642      주소 : 경기도 수원시 권선구 오목천로 132번길 33, 1004호 (고색동, 수원휴먼스카이밸리)

대표번호 : 031-227-4280      팩스번호 : 031-227-4291      이메일 : kqti@kqti.co.kr      성적서 위변조 확인 : 031-227-4280

COPYRIGHT ©한국품질시험원 All RIGHTS RESERVED.