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FT IR에서 발견된 성분을 XRF로 확인 할 수 있을까요?

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작성자 정종하
댓글 1건 조회 2,892회 작성일 12-11-30 21:42

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귀사에 종종 GLASS 분석 의뢰를 하고 있는 아반 스트레이트 코리아의 정종하입니다.

합지(종이) 의 소포제(기포) 의 함유량을 잘 모르겠으나(미량 추정) FT IR로
Si -particle이란 것은 확인이 되었습니다.

이에 XRF로 합지 속에 함유된 소포제 성분의 유무를 확인하고 싶습니다만
가능할까요?
일단 XRF는 수 um 정도 함유되어야 분석이 되는 것으로 알고 있습니다만
nm 정도 함유되어 있다면 어떤 분석 장비로 확인하는 것이 좋을런지요?

상담 후 분석 의뢰 하고 싶습니다.

댓글목록

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KQTI님의 댓글

KQTI 작성일

안녕하세요 한국품질시험원 입니다

소포제 성분이  Si 성분이라면 Si 성분의 유뮤 및 함유량을 파악하면 될 것 같습니

다. 분석방법은  XRF 이외 다른 방법도 있습니다

XRF는 검출감도가 않 좋아 일정량 이상이 있으야 검출이 됩니다

당사로 연락(권진기)  주시면 최적의 방법으로 분석해 드리겠습니다

감사합니다


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