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작성자 KQTI
댓글 0건 조회 2,036회 작성일 12-02-07 20:54

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안녕하세요
 
문의하신 내용으론 세정후 프라스틱 표면 오염도 측정인것 같습니다

분석은 가능하구요, 다만 표면 오염도를 측정 할 수 있는 방법이 여러가지가

있는데 표면에 약품을 drop 한후 이를 회수하여 측정하는 방법(반도체 웨이프

오염도 측정법) 혹은 함침/추출방법 등이 있습니다. 시료의 크기 및 상태

에 따라 맞게 적용해야 할 것 같습니다. 분석은  세정전/후 비교로 해야 할 것

으로 사료 됩니다.  염화나트륨에서 Na 과 Cl 로 나누어서 측정이 가능합니다\

만,  ionograph 500M장비 는 어떤 장비를 말하는지요 ?

당사 극미량 분석 전문가인 연구소장(010-2691-8159) 으로 전화/협의를

부탁드립니다

감사합니다.

>
> 안녕하세요
> 아래 시험이 가능한지 문의 드립니다.
> 저희는 반도체 부품을 만드는 업체입니다. 반도체 부품 한가지 중 플라스틱 소재에 정밀 cleaning 공정이 있습니다.
> cleaning 후 오염도 합부 판정을 고객이 요청하고 있습니다.( ionograph 500M장비 사용을 추천함)
> 측정물질은 염화나트륨 입니다.
> 귀 시험소에서 가능한지 회신바랍니다.
>

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